压电响应力显微术（PFM）

Image shows vertical PFM amplitude overlaid on AFM topography for a lead titanate film, 5µm scan. Imaged with the MFP-3D AFM. Images courtesy of A. Gruverman and D. Wu, UNL. Sample courtesy H. Funakubo.

MFP-3D AFM

利用压电响应力模式，我们能够通过针尖对样品施加高偏压值（上至±220 V，在MFP-3D Infinity上，上至±150 V），以便对压电材料（包括铁电体和多铁性材料）进行高灵敏度和无串扰的测量（）。该模式兼容除Origin以外所有MFP-3D原子力显微镜。

无串扰测量
高灵敏度
可实现高达±220 V的针尖偏压（在MFP-3D Infinity上可高达±150 V）

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Piezoresponse Force Microscopy with Asylum Research AFMs

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