NanoRack样品拉伸台

使用NanoRack™可以从样品中提取新的信息。这种独特的样品台可对样品中心区域施加对称拉伸或压缩载荷，然后同时用AFM进行观察。拉伸台具有大范围高应变和集成了载荷传感器，可测量高达80 N的力。（兼容Jupiter XR AFM以及除Origin以外的所有MFP-3D AFM)。

• 高应变，高行程手动拉伸台控制两轴拉伸应力

• 监控应力和应变数据

• 能在拉伸或压缩下使用

• 允许在不同负载下控制样本扫描区域

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