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  2. Asylum Research
  3. Asylum Research Vero 系列原子力显微镜
  4. Vero ES：干涉式原子力显微镜

Vero ES：干涉式原子力显微镜

2024 R&D 100, Frost & Sullivan Award Winner: Asylum Research's Vero Interferometric AFM
Vero AFM viewed from an angle.

Vero ES是Asylum Research推出的新一代原子力显微镜Vero AFMs的环境控制版本，使用正交相位差分干涉（QPDI）技术精确测量针尖真实竖直位移。

正交相位差分干涉技术

  • 直接测量针尖真实位移
  • 检测噪声更低
  • 避免竖直信号和水平信号的串扰
  • 灵敏度由光波长校准

Vero ES 的特点：

  • 卓越的环境控制
  • 始终实现比其他AFM更高的分辨率
  • 快速扫描，扫描时间以秒计，而非分钟
  • 更简单、更稳定的轻敲模式成像blueDrive™光热激发（可选）


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Vero ES 基于Cypher ES这一高性能环境控制AFM构建，Vero ES不仅拥有 Cypher ES 出色的性能和超高的稳定性，同时搭载了下一代原Vero AFMs独有的正交相位差分干涉（QPDI）技术。

能够获得更高的分辨率

  • 无与伦比的机械稳定性——底噪是其他常见AFM的一半
  • 异常低的漂移——更高分辨率和准直晶格线的保障
  • 极低电噪声——没有形成自电噪声的伪像

快速扫描，获得扫描图像的结果以秒计，而非分钟

  • 扫描速度比典型AFM快10-100倍
  • 操作的每一步都简单、方便，效率高
  • 超越形貌的快速扫描—包括纳米力学、CAFM、PFM等模式

操作的每一步都简单、方便、高效

  • ModeMaster™自动为选定的模式配置软件
  • SpotOn™对准全电动激光和探测器只需一键操作
  • GetReal™自动校准悬臂弹簧常数和灵敏度
  • GetStarted™自动设置轻敲模式成像的最佳参数
  • blueDrive™ 使轻敲模式更简单、更稳定、更定量化

实验室占用空间小，研发能力提升潜力巨大

  • 提供完整的纳米力学表征模式套件，用于测量粘弹性特性（储能/弹性模量和损耗模量）
  • 无与伦比的纳米电学和机电表征模式
  • 方便升级到Vero VRS1250以获取视频级成像速率
  • 众多标准操作模式和可选升级模块

专业的售后支持和服务

  • 一年全面保修
  • 终身免费技术支持和应用专家支持
  • 提供可选的延长保修和高级培训支持

可通过密闭的腔室进行气体和液体灌注

  • 全封闭的样品腔保证环境可控，消除泄漏风险
  • 与快速扫描和所有环境控制附件兼容

可将样本温度控制在0-250°C 的范围内

  • 两种加热台：Polyheater可加热至250°C或CoolerHeater实现0–120°C
  • 低漂移设计允许大范围的温度变化同时保持程成像位置不变
  • 简单快速的设置和使用，无需外部控制器、管道、电线等。

具有与刺激性化学品的广泛相容性

  • 样品腔的构造使得只有熔融石英和探针夹片（PEEK或不锈钢）与液体接触
  • 可选的手套箱配置方便表征对氧气或水敏感的材料

直接测量针尖真实位移

  • 正交相位差分干涉（QPDI）技术精确测量探针针尖真实竖直位移，而非悬臂角度，使AFM测量具有前所未有的准确性和重复性

检测噪声更低

  • 在大多数探针悬臂上，QPDI的检测噪声比OBD至少低10倍 ，测量灵敏度更高。

避免竖直信号和水平信号的串扰

  • QPDI直接测量探针针尖真实竖直位移，避免了OBD检测系统中竖直信号和水平信号的串扰

灵敏度由光波长校准

  • 相比OBD,干涉检测提供更高的准确性和可重复性。

Included Operating Modes

Contact mode
DART PFM
Dual AC (Bimodal) 
Dual AC Resonance Tracking (DART)
Electric force microscopy (EFM)
Force curves
Force mapping mode (force volume)
Force modulation
Frequency modulation
Kelvin probe force microscopy (KPFM)
Lateral force mode (LFM)
Loss tangent imaging
Magnetic force microscopy (MFM)
Nanolithography and nanomanipulation
Phase imaging
Piezoresponse force microscopy (PFM)
Switching spectroscopy PFM
Tapping mode (AC mode)
Tapping mode with digital Q control
Vector PFM

Optional Operating Modes

AM-FM Viscoelastic Mapping Mode*
Contact Resonance Viscoelastic Mapping Mode*
Fast Force Mapping Mode (FFM)
Conductive AFM (CAFM) with ORCA
Current mapping with FFM
Electrochemical Strain Microscopy (ESM)
Nanoscale Time Dependent Dielectric Breakdown (nanoTDDB)
Scanning tunneling microscopy (STM)

(*these modes are included if Vero ES is equipped with blueDrive)

Vero ES 支持与 Cypher ES 相同的可选模式和配件。
纳米力学和热学性能

可定量表征粘弹性，包括：弹性模量、损失模量、损耗角正切，以及热学性能的测量。


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纳米电学和电化学性能

可测量电学性能的工具，包括：电流、电阻率和介电常数等。还包括PFM、STM和EC AFM技术

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温度和其它环境控制

支持温度控制、气体环境（气体/蒸汽或湿度）的配件，并且可以在手套箱中操作（超低氧气和/或水位）

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在液体环境下操作

支持液体环境下的操作，可选灌注功能。blueDrive光热激发也属于此配件系列。

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支持与服务协议

这些方案不仅是延长保修，还能让您的原子力显微镜始终以最佳性能运行，并提供培训机会。
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了解更多关于Vero

Vero 应用文档：
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Vero 应用文档：
提高原子力显微镜准确度
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提高原子力显微镜精密度
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