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Cypher S AFM

Asylum ResearchCypher S 是一款可商业化的快速扫描AFM,而且Cypher 系列AFM 系列是少有的全功能快速扫描AFM,该系列AFM可兼容各种模式和配件。此外,该系列的优势还在于其更容易获得高分辨率。在材料科学和生命科学研究领域, Cypher S 可以实现在空气和液体环境下的对样品进行高质量的扫描和测量。Cypher S后续还可以通过升级硬件进行环境控制,甚至实现视频速率扫描功能。

  • 容易实现的原子力级高分辨成像

  • 可实现快速扫描,获得扫描图像的结果以秒计,而非分钟

  • 操作的每一步都简单、方便,效率高

  • 实验室占用空间小,研发能力提升潜力巨大

  • 专业的售后支持和服务


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Cypher 系列产品使用手册

能够获得更高的分辨率

  • 无与伦比的机械稳定性—底噪是其他常见AFM的一半
  • 异常低的漂移—更高分辨率和准直晶格线的保障
  • 极低电噪声—没有形成自电噪声的伪像


可实现快速扫描,获得扫描图像的结果以秒计,而非分钟

  • 扫描速度比典型AFM快10-100倍
  • 支持最快、最小的探针(—可选3×9 µm尺寸光斑)
  • 超越形貌的快速扫描—包括纳米力学、CAFM、PFM等模式


操作的每一步都简单、方便,效率高

  • ModeMaster™自动为选定的模式配置软件
  • SpotOn™对准全电动激光和探测器只需一键操作
  • GetReal™自动校准悬臂弹簧常数和灵敏度
  • etStarted™自动设置轻敲模式成像的最佳参数
  • blueDrive™使轻敲模式更简单、更稳定、更定量化

 

实验室占用空间小,研发能力提升潜力巨大

  • 提供完整的纳米力学表征模式套件,用于测量粘弹性特性(储能/弹性模量和损耗模量)
  • 无与伦比的纳米电学和机电表征模式
  • 方便升级到Cypher ES(以获取环境控制配件),以及Cypher VRS(以获取视频级成像速率)
  • 众多标准操作模式和可选升级模块

 

专业的售后支持和服务

  • 一年全面保修
  • 终身免费技术支持和应用专家支持
  • 业界最低的延保和维修费用

包括以下操作模式

Contact mode
DART PFM
Dual AC
Dual AC Resonance Tracking (DART)
Electrostatic Force Microscopy (EFM)
Force curves
Force Mapping Mode (force volume)
Force modulation
Frequency modulation
Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM)
Lateral Force Mode (LFM)
Loss tangent imaging
Magnetic Force Microscopy (MFM)
Nanolithography
Nanomanipulation
Phase imaging
Piezoresponse Force Microscopy (PFM)
Switching spectroscopy PFM
Tapping mode (AC mode)
Tapping mode with digital Q control
Vector PFM

可选的操作模式

AM-FM Viscoelastic Mapping Mode
Contact Resonance Viscoelastic Mapping Mode
Conductive AFM (CAFM) with ORCA™ and Eclipse™ Mode
Current mapping with Fast Force Mapping
Electrochemical Strain Microscopy (ESM)
Fast Force Mapping Mode
High voltage PFM
Nanoscale Time Dependent Dielectric Breakdown (nanoTDDB)
Scanning Microwave Impedance Microscopy (sMIM)
Scanning Tunneling Microscopy (STM)

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