High Voltage nanoTDDB
Nanoscale Time Dependent Dielectric Breakdown experiements up to ±150 V.
基本模式
带AutoPilot功能的FFM形貌成像
力曲线
频率调制
横向力模式(LFM)
纳米刻蚀和纳米操纵
相位成像
轻敲模式(AC 模式)
纳米力学模式
双频模式
力点阵模式
力调制
损耗成像
纳米电学模式
静电力显微镜(EFM)
开尔文探针显微镜(KPFM)
磁力显微镜(MFM)
双频追踪(DART)压电力显微镜(PFM)
翻转曲线 PFM
矢量 PFM
纳米力学模式
AM-FM 粘弹性模式(需要 blueDrive)
接触共振粘弹性模式(需要 blueDrive)
快速力曲线模量(FFM - 模量)
扭转力显微镜(TFM)(建议使用 blueDrive)
纳米电学模式
带 ORCA 的导电原子力显微镜(CAFM)
带FFM的电流成像
Ergo KPFM(带有外差、边带和振幅调制方式的单次扫描)
纳米级时间相关介电击穿(nanoTDDB)
扫描电容显微镜(SCM)