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MFP-3D Origin 原子力显微镜

MFP-3D Origin™ 具有Asylum Research产品的稳定性能和高品质。

Origin系列既有稳定的性能,又有实惠的价格。它可以实现高分辨率成像,并支持大尺寸样本、多种成像模式,以及多种配件。因此,Origin系列是一款理想的AFM入门产品!

  • 高品质的科研级AFM

  • 性能稳定:三轴分离设计的扫描器,从原子分辨率扫描至超大的120 µm扫描范围

  • 易于使用、坚固耐用,适合繁忙的实验室

  • 支持多种模式和配件,帮助您获得形貌以外更多的样品信息

  • 易于升级,可通过升级获得新功能

  • 提供专业的售后支持和服务


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Origin Family Brochure
MFP-3D Accessories

高品质的科研级AFM

  • 在气相和液相中都能进行高质量成像,XY扫描范围为120µm,Z扫描范围为15µm(可选40µm)
  • 准确、超低底噪的力测量与控制
  • 闭环传感器扫描仪使操作更简单,测量精度更高
  • 大样品台使导航找样品更容易
  • 快速、轻松、可靠的下针和扫描

易于使用、坚固耐用,适合繁忙的实验室

  • ModeMaster™自动为选定的模式配置软件
  • SpotOn™对准全电动激光和探测器只需一键操作
  • GetReal™自动校准悬臂弹簧常数和灵敏度
  • GetStarted™自动设置轻敲模式成像的最佳参数

支持多种模式和配件,帮助您获得形貌以外更多的样品信息

  • 可以测量粘弹性特性(储能模量和损耗模量)的纳米力学等表征模式
  • 广泛的纳米电学和机电表征模式范围
  • 可加热样品台至275°C
  • 简单、安全、有效的气体或液体环境控制选配

专业的支持和售后服务

  • 包括一年全面保修
  • 终身免费技术支持和应用专家支持
  • 延长保修和维修费用是业界最低的
  • 方便升级到MFP-3D Origin+

包括以下操作模式

Contact mode
DART PFM
Dual AC™
Dual AC Resonance Tracking (DART)
Electrostatic Force Microscopy (EFM)
Force curves
Force Mapping Mode (force volume)
Force modulation
modulation
Kelvin Force Microscopy (KPFM)
Lateral Force Mode (LFM)
Loss tangent imaging
Force Microscopy ()
Nanolithography
Nanomanipulation
imaging
Piezoresponse Force Microscopy (PFM)
Switching PFM
Tapping mode (AC mode)
Tapping mode with digital Q control
Vector PFM

可选操作模式

AM-FM Viscoelastic Mapping Mode
Conductive (CAFM) with ORCA™ and Eclipse™ Mode
iDrive™ (magnetically actuated tapping mode in fluid)
Scanning  Microscopy (SThM)
Scanning Tunneling Microscopy ()

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