原子力显微镜
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原子力显微镜(AFM),或者扫描探针显微镜(SPM)是广泛应用于多种工业领域的理想的表面粗糙度分析工具。随着工业技术的不断发展,现在我们可以生产表面粗糙度非常低的产品,这也使得传统的光学技术以及触针式轮廓仪等很难测得准确的粗糙度数据。下载我们的白皮书,您可以了解到如下内容: