原子力显微镜(AFM)，或者扫描探针显微镜(SPM)是广泛应用于多种工业领域的理想的表面粗糙度分析工具。随着工业技术的不断发展，现在我们可以生产表面粗糙度非常低的产品，这也使得传统的光学技术以及触针式轮廓仪等很难测得准确的粗糙度数据。下载我们的白皮书，您可以了解到如下内容：

• 和其他的表面粗糙度分析工具相比，AFM具有哪些优势
• 现代AFM是如何使得表面粗糙度的测量更加简单便捷
• 在准确测量表面粗糙度参数(Sa和Sq)的同时，AFM还可以进行偏度(Ssk)和峰度(Sku)分析，以获得更加完备的表面分析测试结果
• AFM在半导体、数据存储、玻璃与纸张制造工业中的应用