原子力显微镜是适用于表面粗糙度的理想工具吗？

原子力显微镜(AFM)，或者扫描探针显微镜(SPM)是广泛应用于多种工业领域的理想的表面粗糙度分析工具。随着工业技术的不断发展，现在我们可以生产表面粗糙度非常低的产品，这也使得传统的光学技术以及触针式轮廓仪等很难测得准确的粗糙度数据。下载我们的白皮书，您可以了解到如下内容：

相关产品

Jupiter XR 是一款适合大尺寸样品的原子力显微镜。通过它，用户可以实现在一台扫描器上进行高速成像和大范围扫描。Jupiter原子力显微镜可用于200mm晶圆样品的扫描，提供更高的分辨率、更快的测量速度、更简便的用户体验，并且在学术研究和工业研发领域都具有出色的通用性。