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Vero: 干涉式原子力显微镜

Vero原子力显微镜是Asylum推出的全新一代AFM,其利用正交相位差分干涉技术(QPDI)可以精确测量探针的真实位移。基于屡获殊荣的Cypher 平台打造,Vero继承了Cypher系列无与伦比的稳定性和超高分辨率;并凭着QPDI这项受专利保护的独特创新,使Vero能够获得更定量的、准确和可重复的结果。

  • 测量探针真实的位移

  • 提高了测量灵敏度

  • 避免法向和面内力之间的串扰

  • 通过光的波长进行精确校准

  • 可基于S和ES配置升级


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测量探针真实的位移

  • QPDI直接测量真实的探针位移而不是悬臂梁角度,可提高许多AFM测量的定量化。

改进测量灵敏度

  • 在许多悬臂梁上,QPDI可将悬臂梁检测噪声降低10倍或更多,提高了测量灵敏度。

避免垂直和平面力之间的串扰

  • 只有QPDI测量纯粹的垂直探针位移,避免了ODB垂直和侧向偏转信号之间的大串扰。

通过光的波长精确校准

  • 干涉检测避免了与OBD校准相关的假设和不确定性。



Included Operating Modes

Contact mode
DART PFM
Dual AC
Dual AC Resonance Tracking (DART)
Electric force microscopy (EFM)
Force curves
Force mapping mode (force volume)
Force modulation
Frequency modulation
Kelvin probe force microscopy (KPFM)
Lateral force mode (LFM)
Loss tangent imaging
Magnetic force microscopy (MFM)
Nanolithography and nanomanipulation
Phase imaging
Piezoresponse force microscopy (PFM)
Switching spectroscopy PFM
Tapping mode (AC mode)
Vector PFM

Optional Operating Modes

AM-FM Viscoelastic Mapping Mode
Contact Resonance Viscoelastic Mapping Mode
Fast Force Mapping Mode (FFM)
Conductive AFM (CAFM)
Current mapping with FFM
Electrochemical Strain Microscopy (ESM)
High voltage PFM
Nanoscale Time Dependent Dielectric Breakdown (nanoTDDB)
Scanning Capacitance Microscopy (SCM)
Scanning tunneling microscopy (STM)

相关应用

机械及电学性能低维结构表征涂层与薄膜材料科学石墨烯与碳纳米管等碳纳米材料Magnetics Ferro- & Piezo - electrics

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