Vero: 干涉式原子力显微镜

Vero AFM with front closed.

Vero AFM viewed from an angle.

Vero AFM with front open.

Vero原子力显微镜是Asylum推出的全新一代AFM，其利用正交相位差分干涉技术(QPDI)可以精确测量探针的真实位移。基于 Cypher 系列卓越的稳定性和超高分辨率；并凭着QPDI这项受专利保护的独特创新，使Vero能够获得更定量的、准确和可重复的结果。

测量探针真实的位移
提高了测量灵敏度
避免面外和面内力之间的串扰
通过光的波长进行精确校准
可基于S和ES配置升级

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测量探针真实的位移

QPDI直接测量真实的探针位移而不是悬臂梁的偏折角度，可提高许多AFM测量的定量化分析。

改进测量灵敏度

在许多悬臂梁上,QPDI可将悬臂梁检测噪声降低10倍或更多，提高了测量灵敏度。

避免垂直和平面力之间的串扰

只有QPDI测量纯粹的垂直探针位移，避免了ODB垂直和侧向偏转信号之间的大串扰。

通过光的波长精确校准

干涉检测避免了与OBD校准相关的假设和不确定性。

包含以下操作模式

接触模式
双频追踪压电力显微镜
高次谐波成像模式
双频激发频率追踪模式 (DART)
静电力显微镜（EFM）
力曲线
力成像模式（force volume）
力调制模式
频率调制模式
扫描开尔文探针显微镜（KPFM）
侧向力模式 (LFM)
损耗因子成像模式
磁力显微镜 (MFM)
纳米浊刻和纳米操纵
相位成像
压电力显微镜（PFM）
PFM翻转谱
轻敲模式（AC Mode）
矢量压电力显微镜

可选配的操作模式

频率振幅粘弹性成像模式（AM-FM）
接触共振粘弹性成像模式
快速力成像模式 (FFM)
导电原子力显微镜 (CAFM)
使用 FFM 进行电流成像
电化学应变显微镜 (ESM)
高压压电力显微镜
经时介电击穿测试（nanoTDDB）
扫描电容显微镜 (SCM)
扫描隧道显微镜 (STM)

纳米力学和热学特性

用于定量表征粘弹性特性的工具，包括弹性模量、损耗模量、损耗正切以及用于测量热特性。

纳米电学和电化学特性

用于测量电气特性的工具，包括电流、电阻率和介电常数等。还包括 PFM、STM 和 EC-AFM 技术。

温度和其他环境控制

用于控制温度、气体环境（气体/蒸汽成分或湿度）以及在手套箱中的超低氧气和/或水位下运行的配件。

在液体环境中操作

用于在受控液体环境中操作的附件，可支持灌注。BlueDrive 光热激发选配也属于该配件系列。

售后支持和服务协议

不仅仅是延长保修，这些套餐让您放心，您的AFM正在以最佳性能运行，并为用户提供培训机会。

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