基于AFM二维材料电学性质表征新进展

刘志文博士 牛津仪器应用工程师

2006年博士毕业于大连理工大学三束国家重点实验室，利用AFM, TEM, XRD等技术手段研究PVD制备的氧化物薄膜的生长机制。曾任安捷伦科技纳米测量部应用科学家，主要从事AFM的应用工作。现为牛津仪器的资深应用科学家，从事原子力显微镜的应用推广、测试方法的研究以及AFM相关的多系统耦合。