NanoRack样品拉伸台

MFP-3D NanoRack

MFP-3D AFM

利用NanoRack™，可以从你的样品中提取新的信息。这个样品台可对样品的一个中心区域（可用原子力显微镜观察到的区域）进行对称拉伸，或者施加压缩荷载。这个拉伸台的拉伸范围很大，以实现高应力。此外还有一个集成的测力传感器，可以测量高达80牛顿的高应力（兼容除了Origin型号以外所有MFP-3D原子力显微镜）。

具备高应力和大范围的手动拉伸台，可提供两个轴拉伸应力控制
可获得压力和应力数据
可在拉伸或压缩的情况下使用
可实现不同载荷下的样本成像区域控制
SmartStart™ 自动测力传感器校准，可通过MFP-3D成像或其他测量方式来进行综合力的测量

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资源

NanoRack™ Sample Stretching Stage for the MFP-3D™ AFM Data Sheet

Applications of the NanoRack Sample Stretching Stage to a Commercial Impact…

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