MFP-3D的“扩展Z轴头“可对厚(高)度较大样品进行高达40µm Z轴扫描成像,同时并不会影响其成像性能(仍然可以实现原子级分辨率)。
适用于厚(高)度较大样品,可进行40µm Z轴范围的扫描。
特有的纳米定位传感器,可实现高水平的精确度和准确性。
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