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MFP-3D的“扩展Z轴头“可对厚（高）度较大样品进行高达40µm Z轴扫描成像，同时并不会影响其成像性能（仍然可以实现原子级分辨率）。

  • 适用于厚（高）度较大样品，可进行40µm Z轴范围的扫描。

  • 特有的纳米定位传感器，可实现高水平的精确度和准确性。


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