MFP-3D的“扩展Z轴头“可对厚(高)度较大样品进行高达40µm Z轴扫描成像,同时并不会影响其成像性能(仍然可以实现原子级分辨率)。
适用于厚(高)度较大样品,可进行40µm Z轴范围的扫描。
特有的纳米定位传感器,可实现高水平的精确度和准确性。
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聚焦新材料,新材料(磁性材料)分析测试解决方案技术研讨会暨“全国分析测试技术联盟”成立会议、甬江实验室2024年第一期分析测试技术研讨会圆满落幕。
近日,仪器信息网采访了东北大学分析测试中心副主任周轶然老师。访谈中,周主任介绍了他的研究方向及应用,高度评价了牛津仪器客户服务的服务水准,为单位平台的科研工作提供了不可或缺的支持。
推动AFM技术向前一步,再向前一步——访牛津仪器PLC首席技术官Roger Proksch博士和牛津仪器市场总监Akemi女士
2024年1月9日,牛津仪器在上海演示中心举办“全新一代原子力显微镜Vero技术研讨会”,采用现场演示及线上直播的形式,为国内用户介绍AFM前沿技术进展和相关应用成果。