MFP-3D的“扩展Z轴头“可对厚(高)度较大样品进行高达40µm Z轴扫描成像,同时并不会影响其成像性能(仍然可以实现原子级分辨率)。
适用于厚(高)度较大样品,可进行40µm Z轴范围的扫描。
特有的纳米定位传感器,可实现高水平的精确度和准确性。
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牛津仪器Asylum Research 推出全新一代的SCM,基于微波技术SCM技术进展将大大拓展SCM的应用领域。
中国清华大学以及其它几所著名高校的研究人员利用AFM对控制铁电材料畴壁的电荷传导进行了研究。
伊利诺伊大学厄巴纳-香槟分校(UIUC)的学者们用Cypher系列AFM对碳点的光物理特性进行了深入研究。
Oxford Instruments Asylum Research Releases NanoRack In Situ Tensile and…