MFP-3D的“扩展Z轴头“可对厚(高)度较大样品进行高达40µm Z轴扫描成像,同时并不会影响其成像性能(仍然可以实现原子级分辨率)。
适用于厚(高)度较大样品,可进行40µm Z轴范围的扫描。
特有的纳米定位传感器,可实现高水平的精确度和准确性。
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12月12日,“中国科学技术大学材料微观分析论坛暨高端原位电镜联合实验室揭牌仪式”在中国科学技术大学顺利举行。
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聚焦新材料,新材料(磁性材料)分析测试解决方案技术研讨会暨“全国分析测试技术联盟”会议、圆满落幕。