MFP-3D的“扩展Z轴头“可对厚(高)度较大样品进行高达40µm Z轴扫描成像,同时并不会影响其成像性能(仍然可以实现原子级分辨率)。
适用于厚(高)度较大样品,可进行40µm Z轴范围的扫描。
特有的纳米定位传感器,可实现高水平的精确度和准确性。
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2024年11月5日至10日,全球瞩目的第七届中国国际进口博览会在上海国家会展中心盛大开幕。此次盛会汇聚了来自世界各地的顶尖企业与创新技术,为国内外商业合作搭建了桥梁。作为高端科研设备制造领域的佼佼者,牛津仪器(Oxford…
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近日,仪器信息网采访了东北大学分析测试中心副主任周轶然老师。