Cypher AFM附件：纳米电学性质

扫描电容显微镜（SCM）是一种表征材料纳米电学性质的原子力显微镜(AFM)成像技术，它使用微波射频(RF)信号来探测半导体和其它种类样品中的电荷，载流子的位置，掺杂水平和掺杂类型(p型和n型)等。全新设计的Asylum Research SCM配件提供了比其他现有SCM模块更高的性能和能力。

开尔文探针力显微镜（KPFM）是用来定量样品电势的，这是一种表面探测技术，提供表面电位和功函数的信息。Ergo KPFM软件可以实现基本模式配置和扫描参数的自动化设置。使得原本运行起来比较复杂的模式，现在和就如轻敲模式一样简单。Ergo KFPM软件内置的单通外差（single pass Heterodyne) KPFM模式实现了超高分辨率和精确的相对定量测量。 Ergo…

凭借ORCA™导电原子力显微镜的探针夹持器，所有MFP-3D 原子力显微镜都可以进行导电AFM成像和I-V性能测量。标准模块能够测量约1 pA至20 nA的电流。此外还提供其他电流范围，以及双增益版。

Cypher AFM系列上的激光干涉位移传感器（Interferometric Displacement Sensor, IDS）配件直接测量探针悬臂垂直样品的位置直线偏移，而非像传统光杠杆法（OBD）测量偏移角度，故而不受静电耦合影响，可提高实验结果的可重复性以及准确性。非常适用于压电力显微镜（PFM）以及d33的测量。 Cypher IDS的关键优势： …

利用Cypher 原子力显微镜的HV-PFM选项，可以对压电材料（包括铁电体和多铁性材料）进行高灵敏度、高偏压、以及无串扰的测量。该套件包括：一个集成的高压放大器（±150伏）、高压悬臂支架、高压样品支架，以及导电性悬臂。

利用电化学腔室（EC腔室），可以对电化学过程进行表征（EC-AFM）。EC腔室套件包括：一个液体杯、探针夹持器、样品支架和标准电极。用户可以选择自己的稳压器。这个EC腔室兼容手套箱，适用于所有Cypher原子力显微镜（除了Cypher S型号）。

sMIM 可在Cypher原子力显微镜上实现对金属、半导体和绝缘材料的纳米级的介电常数和导电性成像。

利用NanoTDDB™，可以在Cypher原子力显微镜上实现纳米级精度的介质击穿测量。操作时可以施加恒定电压，或逐渐增加的偏压（最高达±150 V），同时利用一个导电的原子力显微镜探针来监测电流。

通过STM，可以对导电样品进行高分辨率的成像。与原子力显微镜的成像一样，STM也受益于Cypher系统的高稳定性和低漂移性能。

ESM是一种新颖的扫描探针显微术，它适用于Cypher 原子力显微镜。这种显微术能够以一种新奇的分辨率，探测电化学活性和固体中的离子流动。