sMIM 可在Cypher原子力显微镜上实现对金属、半导体和绝缘材料的纳米级的介电常数和导电性成像。
可提供更高的侧向分辨率（10倍）
与竞争品牌的技术相比，运行速度快80倍，且功耗更低
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