纳米级依时性介质击穿（NanoTDDB）

利用NanoTDDB™，可以在Cypher原子力显微镜上实现纳米级精度的介质击穿测量。操作时可以施加恒定电压，或逐渐增加的偏压（最高达±150 V），同时利用一个导电的原子力显微镜探针来监测电流。

• 凭借原子力显微镜探针针尖的空间分辨率，可以实现在更小的尺度范围（与使用传统的探针台相比）对介质击穿(~20 nm)进行局部测量。

• 可以从高分辨率图像中准确地选择测量点，或者对网格点进行成像和分析。

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