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扫描微波阻抗显微镜(sMIM)

利用sMIM可以对金属、半导体和绝缘材料进行纳米级的介电常数和导电性成像。该技术适用于所有MFP-3D 原子力显微镜(除了Origin型号以外)

  • 可提供更高的侧向分辨率(<50 nm)和信噪比(> 10倍)

  •  与竞争品牌的同类技术相比,其运行速度快80倍,且功率更低


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