Process Mineralogy and Chemical Analysis

利用NanoTDDB™，能够实现介质击穿表征的纳米级精度。操作时可以施加恒定的电压，或逐渐增加的偏压（最高达±220 V），同时利用一个导电的原子力显微镜探针来监测电流 （适用于除Origin型号以外所有的MFP-3D AFM。使用MFP-3D Infinity时，电压范围是±150 V）。

Cypher AFM系列上的激光干涉位移传感器（Interferometric Displacement Sensor, IDS）配件直接测量探针悬臂垂直样品的位置直线偏移，而非像传统光杠杆法（OBD）测量偏移角度，故而不受静电耦合影响，可提高实验结果的可重复性以及准确性。非常适用于压电力显微镜（PFM）以及d33的测量。 Cypher IDS的关键优势： …

利用sMIM，可以对金属、半导体和绝缘材料进行纳米级的介电常数和导电性成像。该技术适用于所有MFP-3D 原子力显微镜（除了Origin型号以外）。

凭借ORCA™导电原子力显微镜的探针夹持器，所有MFP-3D 原子力显微镜都可以进行导电AFM成像和I-V性能测量。标准模块能够测量约1 pA至20 nA的电流。此外还提供其他电流范围，以及双增益版。

利用NanoTDDB™，可以在Cypher原子力显微镜上实现纳米级精度的介质击穿测量。操作时可以施加恒定电压，或逐渐增加的偏压（最高达±150 V），同时利用一个导电的原子力显微镜探针来监测电流。